“反饋移位寄存器”簡單造句，反饋移位寄存器造句子

本文介紹了一種使用非最長週期序列的非定長線*反饋移位寄存器作為數字系統內部測試生成器的方案，並給出了設計這種測試生成器的設計過程和算法。

對於所有的實驗電路，通過使用級數為確定*測試向量的確定位數量最大值的線*反饋移位寄存器，本策略可以編碼所有的確定*測試向量。

它可與傳統的三值模和電路配合，即可實現三值線*反饋移位寄存器。

通過改變線*反饋移位寄存器的結構濾掉無效的測試向量從而實現低功耗測試。

這些多項式是從原始多項式導出的，該原始多項式定義了能夠生成偽隨機數的線*反饋移位寄存器的反饋函數。

其次,探討了偽隨機理論及產生偽隨機序列的各種方法,包括線*同餘生成法、混沌序列生成法、線*反饋移位寄存器生成法.

改進的算法克服了傳統線*反饋移位寄存器產生隨機數的速度受字長制約的限制，其電路結構能夠快速地產生任意字長的偽隨機序列。