本文介绍了一种使用非最长周期序列的非定长线*反馈移位寄存器作为数字系统内部测试生成器的方案,并给出了设计这种测试生成器的设计过程和算法。
对于所有的实验电路,通过使用级数为确定*测试向量的确定位数量最大值的线*反馈移位寄存器,本策略可以编码所有的确定*测试向量。
它可与传统的三值模和电路配合,即可实现三值线*反馈移位寄存器。
通过改变线*反馈移位寄存器的结构滤掉无效的测试矢量从而实现低功耗测试。
这些多项式是从原始多项式导出的,该原始多项式定义了能够生成伪随机数的线*反馈移位寄存器的反馈函数。
其次,探讨了伪随机理论及产生伪随机序列的各种方法,包括线*同余生成法、混沌序列生成法、线*反馈移位寄存器生成法.
改进的算法克服了传统线*反馈移位寄存器产生随机数的速度受字长制约的限制,其电路结构能够快速地产生任意字长的伪随机序列。