在銦、紫銅、錫、*銅等機械接觸中，銦電極具有最低的接觸電阻，其他電極須經電冶成方能進行測定。
由微動引發的微動磨損或微動腐蝕，會造成連接器的接觸電阻值升高從而降低其接觸*能。
指出：在鉍、金、鎳三種材料中，鉍與硒的接觸電阻較小。
使用四線方法消除了接觸電阻和引線電阻的影響，這對於測量半導體材料的電阻率是特別重要的。
討論了氧化溶液組成和*作條件對氧化膜耐蝕*和接觸電阻的影響。
但其在工業大氣中很容易腐蝕變*，不僅影響產品外觀，還會增加電子元件的接觸電阻，降低它的可焊*。
給出了非合金接觸情況下，PNP型HBT基極比接觸電阻和接觸阻抗的解析計算方法和結果。
供電電極的接觸電阻與大地的電阻率成正比，與電極的粗細及入土深度有關。
導通電阻測試需注意參考點(基準點)選擇、接觸電阻及現場干擾的影響。
採用該方法可以區分觸頭表面污染狀態，並根據接觸電阻的變化規律及其變化值的大小評價觸頭接觸可靠*。
爲了減小器件的接觸電阻和電流的非均勻*，使用了獨特形狀的集電極，總的電流密度也因此提高。
電阻焊機；焊接回路；接觸電位差；接觸電阻；
鍍C材料的微動接觸電阻值遠高於鍍金材料的電阻值，低接觸壓力下鍍C材料的微動接觸電阻不穩定。
接觸電阻一般非常小其範圍在微歐姆到幾個歐姆之間
用SPICE進行了TEC各種特*的*和討論，分析了環境溫度、製冷功率、附加熱阻、接觸電阻、工作電流以及電流源等對TEC工作特*的影響。
圖4-42示出使用580型微歐姆計、2010型數字多用表或2750型數字多用表數據採集系統進行四線接觸電阻測量的基本配置情況。
圖4 -42說明用來測試一個接點的接觸電阻的基本配置。
濺*工藝製備出的鋁背場接觸電阻隨退火溫度升高呈下降趨勢且濺*工藝的接觸電阻比印刷工藝更小。
利用本工藝電鍍能得到*能優良的鈀鍍層，如外觀白亮、反光率高、接觸電阻小、硬度高、耐磨、耐蝕等優點。
透過四電極法測量了複合板與碳紙間的接觸電阻。
對於大多數的應用來說，微歐姆計或數字多用表足以用來進行接觸電阻的測量工作。
平均讀數法去除了接觸電阻的某些影響。
針對特殊結構和材料的焊接*能，指出目前的焊接問題主要是存在飛濺和接觸電阻過大而帶來的“打火”現象；
一高質量電阻器在信號道路和使用瑞士與黃金接觸適合低接觸電阻和長期的耐久*一起使精密衰減器內只。
研究了有機薄膜場效應晶體管的源漏接觸電阻和溝道電阻對器件*能的影響，結果表明接觸電阻是影響器件*能的主要因素。
分支接頭結構合理並用先進的工藝製作，接觸電阻極小，不受熱脹冷縮影響。
各種低阻測量的應用包括：接觸電阻、超導體電阻和導體電阻率的測量等。
接觸電阻就是電流流過閉合的接觸點對時的電阻。
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