單晶體的電子衍*花樣,就幾何*質而言,雖然它與落在反*球面上的所有倒格點所構成的圖形完全一致,但是一個衍*斑點卻不是由一個倒格點所產生。
基於跡線分析法,開發了一種不需衍*花樣的鑄造合金晶體取向測算程序。
透*電子衍*花樣的變化表明在附近發生了相變,它的晶體結構參數明顯地變化。
多重暗場象可以快速揭示衍*花樣同明場和暗場象之間的關係。