本文研究了*分子高位三重態熒光壽命的測量方法。
該方案具有鎖相環路的特點,它利用相敏檢波與調製技術,把熒光壽命轉換成周期*輸出訊號,且熒光壽命與週期成正比。
在測定其熒光壽命及熒光量子產率基礎上計算出它們的輻*及非輻*衰變速度常數。
熒光強度從GABB,GAYB,GANB逐步減弱,熒光半高寬和熒光壽命逐步變小。