採用正電子湮沒壽命譜儀(PALS)測試了均質膜幹態條件下自由體積分數和自由體積孔穴半徑。
用正電子湮沒壽命譜方法,對國內外幾個主要廠家的加強型熱收縮製品進行了對比測試,得到了一些有參考價值的結果。
藉助慢正電子湮沒技術研究了樣品的空位型缺陷。
多普勒增寬譜的結果表明,不同雜質元素摻雜的金剛石薄膜,其中使正電子湮沒的缺陷種類是相同的;
測量了四種典型鎳鍍層的採透火和退火試樣的正電子湮沒壽命譜。
不同組成的高衝聚苯乙烯(HIPS)和低密度聚乙烯(LDPE)共混物的正電子湮沒壽命譜被測量,結果表明HIPS和LDPE是不相溶共混物。
採用正電子湮沒壽命方法研究了國產改進型316L不鏽鋼的微結構及其溫度變化。
本文介紹了正電子湮沒方法在若干金屬功能材料研究中的一些應用。
正電子湮沒引數的週期*,與點陣畸變和晶體缺陷的週期*變化有關。
在室溫條件下測量了吸收光譜與正電子湮沒輻*多普勒展寬譜。
正電子湮沒技術*實了這種空位的存在。