以三參數韋伯分佈來模擬產品失效模式,利用韋伯機率紙繪圖解析形狀、尺度、位置參數值變化與生產批次的關聯*。
通過數值模擬結果之間的對比分析,揭示出巖石試樣宏觀破壞模式隨細觀層次上韋伯分佈參數的變化而不同。