1、在整個實驗過程中,用反*高能電子衍*原位監測膜生長。
3、通過反*高能電子衍*原位實時監測薄膜生長,結合原子力顯微鏡等表徵手段,分析了薄膜的表面微觀結構,確定了薄膜的生長模式。
2、通過反*高能電子衍*(RHEED)儀原位實時監測薄膜生長,研究薄膜的生長過程。